A/B扫描超声波测厚仪PVX/PVXB | ||||||||||||||||||||||||||
特点 - 可调方波脉冲可满足高分辨率和穿透深度等方面的要求 - 具有多种视场选择,包括射频显示、检波、时基B-扫描和大尺寸数显 - 时基B-扫描显示被测材料的断面,常用于显示被测材料底面的轮廓 - 分辨率可调 - 可选配多种单晶探头,应用于不同的用途 - 内置AGC硬件的增益用于多回波和穿透涂层的测量 - 一点和两点校准方式,或从材料列表中选择声速 - 16个出厂设置和48个用户自定义的设置 - PVX具有字母数字存储器,可满足用户报告需要 - 高速扫描功能每秒可测量32次。将探头从被测材料移开时,将显示扫描测量的最小值 - PVX测厚仪具有上下限视听报警功能 - 利用搜索功能定位检测点,自动调整显示传送信号进入视场 - 使用免费下载的专业的DakView软件,可将数据传送到计算机上。 另有PVXB型可选,性能除没有A扫描,其他一致。 | ![]() | |||||||||||||||||||||||||
技术参数
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